Sigmadyne SigFit(光機熱耦合分析工具)v2020R1F免費版

Sigmadyne SigFit是一款光機熱耦合分析工具，自適應控制仿真、用蒙特卡羅方法進行變化分析、計算動態(tài)響應波前誤差(與光學分析軟件連接)和視線誤差，可廣泛應用于空間相機、紅外光學鏡頭、激光引信等領(lǐng)域。

功能介紹

1、基本功能

將熱分析與機械分析的溫度、應力和變形量等通過澤尼克多項式擬合或點陣圖插值，為光學分析軟件提供光學表面的變形信息和溫度和應力引起的折射率變化信息，從而實現(xiàn)熱、機械及光學的耦合分析。

多項式擬合：將多種輸入格式的數(shù)據(jù)擬合為多項式。多項式類型包括標準和邊緣Zernike 多項式、非球面多項式、X-Y多項式等九種格式。擬合結(jié)果包括多項式系數(shù)、光學工具輸入宏文件、擬合RMS 和PV 值等

表面變形插值：將光學測試的試驗數(shù)據(jù)或有限元仿真的網(wǎng)格數(shù)據(jù)插值為一個數(shù)組或者另一種網(wǎng)格結(jié)果，以用于仿真預測結(jié)果與光學測試結(jié)果的對比或描述Zernike 多項式無法準確描述的光學表面變形

2、高級應用

主動控制：分析光學面形RMS值隨激勵源數(shù)目的變化關(guān)系，分析如何布置激勵源使光學表面RMS 更小，為施加激勵源的位置和大小提供參考

動態(tài)響應：基于固有頻率結(jié)果、激勵載荷和阻尼等，計算面形由于諧波振動、隨機振動和瞬態(tài)載荷引起的剛體位移、曲率變化和RMS 誤差、傳遞函數(shù)變化以及各階模態(tài)對RMS 的影響等

設計優(yōu)化(僅MSC Nastran)：將光學表面的Zernike系數(shù)、面型RMS 值、PV 值等參數(shù)轉(zhuǎn)變?yōu)镹astran 格式的方程，利用Nastran 的優(yōu)化求解器對光學表面的面型、支撐結(jié)構(gòu)、材料參數(shù)等進行優(yōu)化。

光程差分析：根據(jù)有限元分析的鏡面應力和溫度結(jié)果、流體軟件計算的鏡面附近流體的密度以及這些參數(shù)對折射率的影響關(guān)系，計算為平均光程差、雙折射等光學特性。

特別說明

提示：該資源為網(wǎng)盤資源，請?zhí)崆鞍惭b好百度網(wǎng)盤電腦版